一、三箱冷熱沖擊試驗機廠家足試(shi)驗方法：

1. GJB150.5A-2009溫度沖(chong)擊試驗(yan)

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度(du)沖擊試驗(yan)

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電(dian)工電(dian)子產品環境試驗

第2部(bu)分:試驗方法溫度變化(hua)試驗導則

4. GJB360B-2009溫(wen)度沖(chong)擊試驗

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電(dian)工電(dian)子產品(pin)環境試驗第(di)2部分(fen)：試驗方法 試驗A：低溫(wen)

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產品(pin)環境試(shi)(shi)驗(yan)(yan) 第2部分：試(shi)(shi)驗(yan)(yan)方法(fa) 試(shi)(shi)驗(yan)(yan)B：高(gao)溫

7.GB/T 10589-2008 低(di)溫試驗箱技術條(tiao)件

8.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yan)箱(xiang)技術條(tiao)件

二、三箱冷熱沖擊試驗機廠家測試條件：

• 三相沖擊模(mo)式：

高溫60℃～ 150℃，測(ce)試時間30min~99h可任意調節

常(chang)溫沖擊5min~99h可任意調節

低溫(wen) -10℃ ～ -65℃，測試時間30min~99h可任意調節

• 兩箱(xiang)沖擊模式

高溫(wen)60℃～ 150℃，測試時間30min~99h可任意(yi)調節

低溫 -10℃ ～ -65℃，測試時(shi)間(jian)30min~99h可任意調節

三、高低溫沖擊試驗箱供電條件：

AC380V三相四線 +保護接地

電壓(ya)允許波動(dong)范圍：±10%V

頻(pin)率允(yun)許波動范圍(wei)：（50±0.5）ＨZ

TN-S方式(shi)供(gong)電或TT方式(shi)供(gong)電

保護地(di)線(xian)接地(di)電阻小(xiao)于4Ω