一、冷熱沖擊試驗機三箱供電條件：

AC380V三(san)相四線 +保(bao)護接地(di)

電壓允許波動范圍：±10%V

頻率允許(xu)波動范圍：（50±0.5）ＨZ

TN-S方式供(gong)電(dian)或TT方式供(gong)電(dian)

保護(hu)地(di)線接地(di)電阻小于4Ω

二、冷熱沖擊試驗機三箱測(ce)試條件(jian)：

• 三相沖擊模式：

高溫60℃～ 150℃，測試時間30min~99h可任意調節

常溫沖(chong)擊(ji)5min~99h可任意(yi)調節

低溫(wen) -10℃ ～ -65℃，測試時間30min~99h可任意(yi)調節(jie)

• 兩(liang)箱沖擊模式

高溫60℃～ 150℃，測(ce)試時間30min~99h可(ke)任意調節

低(di)溫 -10℃ ～ -65℃，測試時間30min~99h可(ke)任意調節

三、高低溫沖擊試驗箱(xiang)滿足試驗方法：

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖(chong)擊試驗(yan)

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電(dian)工電(dian)子產品環境試驗

第2部分(fen):試驗(yan)方法(fa)溫(wen)度變化試驗(yan)導則

4. GJB360B-2009溫度(du)沖擊試驗

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子(zi)產(chan)品環境試(shi)驗第2部(bu)分：試(shi)驗方(fang)法 試(shi)驗A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產品環境試驗 第2部分(fen)：試驗方(fang)法 試驗B：高(gao)溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試(shi)驗箱技(ji)術(shu)條件

8.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技(ji)術條件