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產品名稱:

可(ke)程式高低(di)溫檢驗測試機

產品簡介(jie):可程式高(gao)低溫(wen)檢驗測試機該系列產品適(shi)用于航空航天產品、信息電子(zi)儀器(qi)儀表、材(cai)料(liao)、電工(gong)、車輛、金屬產品、各種(zhong)電子(zi)元氣件在高(gao)低溫(wen)環(huan)境下、檢驗其各性能項指針及(ji)質量管理(li)之用
  • 更新時間:2021-01-11
  • 廠商性質:生產廠家
  • 產品(pin)品(pin)牌:寶試儀器
  • 訪問次數:945
產品概述
品牌其他品牌適用領域其他
額定電壓220-380V產地國產
加工定制

一、可程式高低溫檢驗測試機技術參數

型號

BS-80D

BS-150D

BS-225D

BS-408D

BS-608D

BS-800D

BS-010D

內箱尺(chi)寸W*H*D(mm)

400*500*500

500*600*500

500*750*600

600*850*800

800*950*800

1000*1000*800

1000*1000*1000

外箱(xiang)尺寸W*H*D(mm)

600*1650*1100

700*1700*1200

700*1850*1300

800*1950*1500

1000*2050*1500

1200*2100*1500

1000*1000*1000

溫度范圍

-70-+100℃(150℃)

(A10℃  B0℃  C-20℃  D-40℃  E-50℃  F-60℃  G-70℃)

溫度解析度/均勻度

0.01℃   ±1℃

溫度(du)控制精度(du)/波(bo)動度(du)

±1℃    ±0.5℃

升溫/降溫時間

約(yue)3℃/min   約(yue)1℃/min  (其(qi)他(ta)條件可定制)

電源

AC220V+±10%V 50HZ/60HZ      AC380V+±10%V 50HZ/60HZ

 二、可程式高低溫檢驗測試機執行標準

1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環境試驗(yan)(yan)第2部分:試驗(yan)(yan)方法 試驗(yan)(yan)A:低溫

2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分(fen):試驗方法 試驗B:高溫

3. GJB150.3A-2009              高溫試驗(yan)方法

4. GJB150.4A-2009              低溫試驗(yan)方法

5. GB2423.22-2008電工(gong)電子產品(pin)環境試驗(yan) 第2部(bu)分 試驗(yan)方(fang)法 試驗(yan)Nb:規定溫(wen)度變化(hua)速率的(de)溫(wen)度變化(hua)

 三、高低溫試驗箱程序及控制功能(neng):

可(ke)(ke)(ke)使(shi)(shi)用(yong)的程序(xu)量:大(da)120組,1個(ge)程序(xu)可(ke)(ke)(ke)由1~99段(duan)(duan)次(ci)組合而成可(ke)(ke)(ke)使(shi)(shi)用(yong)記憶容量: 1200段(duan)(duan) ,可(ke)(ke)(ke)重復執行命令:每一個(ge)命令可(ke)(ke)(ke)達(da)999次(ci),程序(xu)斜率設(she)定可(ke)(ke)(ke)由時間(jian)軸來設(she)定,程序(xu)間(jian)可(ke)(ke)(ke)設(she)定聯(lian)結使(shi)(shi)用(yong),程序(xu)之制作采對談式操作簡單,具(ju)有(you)編輯,清除,插(cha)入等功(gong)(gong)能,4組時間(jian)信號(hao)輸出控制(可(ke)(ke)(ke)控制待測物ON/OFF動作),具(ju)有(you)9組PID參(can)數設(she)定,程序(xu)執行中具(ju)有(you)跳(tiao)段(duan)(duan),保(bao)持功(gong)(gong)能,可(ke)(ke)(ke)顯示曲(qu)線(xian),資料獲取;日(ri)期、時間(jian)調整功(gong)(gong)能;按鍵及(ji)畫面鎖(suo)定(LOCK)功(gong)(gong)能,可(ke)(ke)(ke)連(lian)接計算機使(shi)(shi)用(yong),8點DI異常輸入及(ji)10點DO信號(hao)控制

該系列產品(pin)適用于航空航天產品(pin)、信(xin)息電子儀(yi)器儀(yi)表、材(cai)料、電工、車輛、金屬、

產品(pin)、各(ge)種電子元氣件在(zai)高低溫(wen)環(huan)境下、檢驗其各(ge)性能項指(zhi)針及質量(liang)管理之用

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