一、可程式高低溫試驗箱簡介:

  可(ke)程式高(gao)低(di)溫試(shi)驗(yan)(yan)機系屬氣候模(mo)擬箱(xiang)之(zhi)一，適用(yong)于考核(he)各(ge)種產品(pin)或塔(ta)芯塑料部件的(de)高(gao)低(di)溫老化試(shi)驗(yan)(yan)及家用(yong)電(dian)器(qi)、儀器(qi)、儀表(biao)、元器(qi)件等電(dian)工電(dian)子產品(pin)，在(zai)高(gao)溫、低(di)溫環境條件下的(de)適應性試(shi)驗(yan)(yan)，可(ke)供各(ge)種科研機構及廠礦中心試(shi)驗(yan)(yan)室作試(shi)驗(yan)(yan)用(yong)。

二、滿足標準：

1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電(dian)工電(dian)子產品環境試(shi)(shi)驗(yan)第2部分：試(shi)(shi)驗(yan)方法 試(shi)(shi)驗(yan)A：低(di)溫

2. GB/T 2423.2-2008 電(dian)工電(dian)子(zi)產品(pin)環(huan)境試(shi)驗 第2部分：試(shi)驗方(fang)法 試(shi)驗B：高溫

3. GJB150.3A－2009            高溫試驗方法

4. GJB150.4A－2009             低(di)溫試驗方法

5. GB2423.22-2008電工電子產品(pin)環境(jing)試驗(yan) 第2部分 試驗(yan)方法(fa) 試驗(yan)Nb：規定溫(wen)度(du)變化速率的溫(wen)度(du)變化

6. GBT 2424.5-2006 電工電子產(chan)品環境試驗(yan) 溫度試驗(yan)箱(xiang)性(xing)能確(que)認(ren)

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yan)箱技術條件

三、維修保(bao)養知(zhi)識

①檢(jian)查設備置(zhi)放環境是否(fou)滿(man)足(zu)-5℃~35℃環境溫度(du)、通風等情況。

②冷(leng)凝(ning)器(qi)(qi)是否有灰塵(chen)堆積，用吸塵(chen)器(qi)(qi)或者高壓空氣清潔冷(leng)凝(ning)器(qi)(qi)灰塵(chen)。

③打開設備配(pei)電盤查(cha)看元器件(jian)和電路走(zou)線是否有松(song)動(dong)。

④如果長期停(ting)止使用，應定期對(dui)高低溫試驗箱進(jin)行通電點亮(liang)，時間為(wei)1小時。

如果您在使用過程中遇到問題，可(ke)以及(ji)時(shi)聯系客服，免費提供技術支(zhi)持，另外我們也提供維修服務。

四、可程式高低溫試驗箱技術參數：