快速溫變試驗箱滿足試驗方法：

1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007第2部分：試(shi)驗方法(fa) 試(shi)驗A：低(di)溫

2. GB/T 2423.2-2008   第2部分：試驗方法(fa) 試驗B：高溫

3. GJB150.3A－2009     ;       高溫試驗方(fang)法

4. GJB150.4A－2009   ;          低溫(wen)試驗方法

5. GB2423.22-2008電工電子產品(pin)環(huan)境試驗 第2部分試驗Nb：規定溫度(du)變化(hua)速率的溫度(du)變化(hua)

6. GBT 2424.5-2006 電(dian)工(gong)電(dian)子產品環(huan)境試驗 溫度試驗箱性能(neng)確認

7. GB/T 10589-2008 低溫試驗(yan)箱技術(shu)條件

8.GBT 2424.7-2006 電工電子產品(pin)環(huan)境試驗 試驗A和B(帶負載)溫度(du)試驗箱的測(ce)量